Lokalisierung der elektromagnetischen Emission von Integrierten Schaltungen auf Leiterplatten

Timm OSTERMANN, Georg ZACHL, JKU Linz

 

 

Integrierte Schaltungen sind in den meisten Fällen nicht die Quelle für direkte elektromagnetische Abstrahlung, jedoch die Ursache/Quelle für die elektromagnetische Emission von Leiterschleifen auf Leiterplatten/PCBs.

Durch z.B. geeignete Entkopplungskapazitäten kann die elektromagnetische Emission reduziert werden. Durch die Verwendung eines Nahbereichsscanners kann die elektromagnetische Emission von Leiteranordnungen auf einer Leiterplatte visualisiert und damit lokalisiert werden.

Hierdurch kann auch der Einfluss von verschiedenen Leiteranordnungen (wie z.B. Schlitze in der Groundplane) sichtbar dargestellt werden.

Weiter kann der Einfluss geeigneter Gegenmaßnahmen dargestellt und analysiert werden. Im Beitrag werden einige Beispiele dargestellt.