Nach dem Besuch in einem akkreditierten EMV-Labor erhalten Sie als Entwickler ein EMV-Messprotokoll aus dem hervorgeht, ob Sie die jeweilige EMV-Norm erfüllen oder nicht.

Falls nicht, beginnt nun Ihre Arbeit, den Ursprung der störenden Strahlung zu finden und diese zu beseitigen.
In diesem kurzen Vortrag werden verschiedene Methoden zur Messung von Abstrahlungen im Nahfeld von Leiterplatten gezeigt. Ziel ist es Ihnen die einzelnen Möglichkeiten aufzuzeigen und deren Vor- und Nachteile mit Ihnen zu diskutieren.

Verglichen werden dabei die Verwendung einer Nahfeldsonde mit einem Oszilloskop der Einstiegsklasse, einer Nahfeldsonde mit einem Oszilloskop der Mittelklasse, einer Nahfeldsonde mit einem Spektrumanalysator und eines Nahfeldscanners mit Spektrumanalysator.

Ihnen soll damit eine Entscheidungshilfe für Ihre entwicklungsbegleitende EMV-Ausstattung gegeben werden. Sie sollen die für Sie beste Methode kennenlernen, um zukünftige EMV-Probleme zu verhindern oder im schlimmsten Fall einfacher beheben zu können.