EMV Fachtagung Vortragende

EMV Fachtagung

Vortragende der EMV Fachtagung 2016 - am 12.4.2016

Aspekte der Funkrichtlinie 2014/53/EU und angewandte Prinzipien im elektromagnetischen Umfeld

Franz ZIEGELWANGER und Thomas WEBER,
Bundesministerium für Verkehr, Innovation und Technologie

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EMI Rejection of Operational Amplifiers

Gunter WINKLER und Bernd DEUTSCHMANN,
Technische Universität Graz

 

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Filterung von DCDC Wandlern unter genauer Betrachtung von stromkompensierten Drosseln und SMD-Ferriten

Hans-Peter KAISER, Würth Elektronik eiSos GmbH & Co. KG

 

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Gestrahlte Störfestigkeitsprüfungen im Nahbereich

Ralf HEINRICH, Teseq GmbH

 

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Vergleich entwicklungsbegleitender Messmöglichkeiten im EMV-Nahfeld

Christian BAUER, x.test GmbH


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EMV-Simulation: Praktische Anwendung in der Entwicklung

Dirk MÜLLER, EMV-Testhaus GmbH

 

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FFT-based measuring receiver for EMI compliance measurements on vehicles and car components, requirements and practical use

Jens MEDLER, Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG

 

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EMV-Prüfungen für Kraftfahrzeug-Komponenten akkreditiert und normkonform durchführen

Kurt LAMEDSCHWANDNER, Seibersdorf Labor GmbH

 

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Vortragende der EMV Fachtagung 2016 - am 13.4.2016

Neue Normanforderungen für die EMV Prüfungen: ESD / Burst / Surge / LF (0-150 kHz) / Power Fail

Rüdiger SPÄTH, AMETEK CTS Germany GmbH

 

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EMC Simulation in the Design Flow of Modern Electronics

Matthias TRÖSCHER, CST AG

 

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Erstellung einer simulierbaren Beschreibung in SPICE für eine bestehende IBIS Beschreibung

Timm OSTERMANN, Johannes Kepler Universität Linz

 

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EMV-Verhalten von ICs und Elektronik - Probleme mit ESD und Burst vermeiden

Sven KÖNIG, Langer EMV-Technik GmbH

 

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Produktzertifizierungen in Märkten außerhalb der Europäischen Union unter besonderer Berücksichtigung der Anforderungen der Elektromagnetischen

Andreas REITER, KEBA AG

 

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Nahfeld-basierte Charakterisierungs-Techniken für Fehlersuche und Vorhersage von EMV Emissionen elektronischer Systeme - Projekt Noiseless

Sven BACKHOVE und Christian HANGMANN,
Fraunhofer IZM / TU Berlin und Universität Paderborn

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Achtung Ableitströme!
Ableitströme in Fehlerstrom-geschützter Umgebung

Herbert BLUM, Schurter AG

 

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Impact of pulsed EMF on Humans caused by a Remote Piloted Aerial System

Alexander PREINERSTORFER, AIT Austrian Institute of Technology GmbH

 

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Umsetzung der EMF-Arbeitnehmerschutzrichtlinie 2013/35/EU ab 1. Juli 2016 – Was ist zu tun? Welche Arbeitsplätze sind besonders betroffen?

Gernot SCHMID, Seibersdorf Labor GmbH

 

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