Die elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) von elektronischen Systemen/Geräten und vor allem von integrierten Schaltungen (ICs) hat in den letzten Jahren zunehmend Bedeutung erlangt. Der Einsatz von hochintegrierten ICs stellt den Entwickler von elektronischen Geräten zunehmend vor Herausforderungen, da diese ICs oft nicht nur die Ursache von Störemissionsproblemen darstellen, sondern auch sehr störempfindlich sein können. Neben der ständigen Zunahme von potenziellen Störquellen sind zum Beispiel die immer geringer werdenden Versorgungsspannungen der ICs auch ein Grund für steigende Störempfindlichkeiten.

Eine frühzeitige Erkennung der potentiellen EMV Probleme schon während der Konzept- und Entwicklungsphase von elektronischen Geräten ist daher ein notwendiges und wünschenswertes Ziel. Für die Geräteentwicklung werden wichtige Informationen über das individuelle EMV-Verhalten der verwendeten ICs und auch darüber, wie sich diese Eigenschaften auf das endgültige EMV-Verhalten des finalen Gerätes auswirken, benötigt.

Aus diesem Grund wird in diesem Beitrag speziell auf die Auswirkungen von hochfrequenten Störsignalen auf Operationsverstärkerschaltungen eingegangen. Um Operationsverstärkerschaltungen bezüglich ihrer Störempfindlichkeit untersuchen zu können, wurde vor einiger Zeit die sogenannte „Electromagnetic Interference Rejection Ratio“, kurz EMIRR eingeführt. Sie beschreibt in welchem Maß ein hochfrequentes Störsignal die Ausgangsspannung eines OPV's beeinflusst.

Mit Hilfe von Messbeispielen zur Störfestigkeit von Operationsverstärkerschaltungen wird gezeigt, wie die EMIRR eines Operationsverstärkers gemessen werden kann und welche Maßnahmen zur Verbesserung der Störfestigkeit getroffen werden können.