Vortragender: Dr. Kurt Lamedschwandner

Datum: 10.3.2010, 09:30 Uhr

Ort: EMV Düsseldorf 2010

Abstract:

Immer öfter werden Nahfeldmessungen als entwicklungsbegleitende Vor- und/oder Vergleichsmessungen eingesetzt, um die Störabstrahlung von Printed Circuit Boards (PCBs) schon vor den ersten Messungen in einem EMV-Prüflabor zu bewerten und daher früh genug im Entwicklungszyklus Gegenmaßnahmen ergreifen zu können. An der Schnittstelle zwischen den Nahfeldmessungen auf IC- bzw. PCB-Ebene und der Geräteebene existiert eine Kluft, ein sogenanntes „Missing Link“.

Es werden Ergebnisse von Vergleichsmessungen verschiedener Musterprints im Nah- und Fernfeld vorgestellt und diskutiert. Mit den Untersuchungen wird gezeigt, dass eine Abschätzung der Störfeldstärke eines PCBs im Fernfeld auf Basis von Nahfeldmessergebnissen unter bestimmten Bedingungen näherungsweise möglich ist.

Aufgrund immer kürzer werdender Time-to-market- und damit Entwicklungszeiten wird es immer wichtiger, bereits frühzeitig zu erkennen, ob ein Endprodukt in der Lage sein wird, die geforderten EMV-Spezifikationen zu erfüllen.

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