SEE-Tests (Single Event Effect)
In den Seibersdorf Laboratories bieten wir fortschrittliche Single-Event-Effect-Tests (SEE) an, um die Anfälligkeit elektronischer Komponenten für den Einsatz im Weltall oder anderen ionisierenden Strahlungsumgebungen zu bewerten. Unsere umfassenden SEE-Testlösungen sind auf die strengen Anforderungen verschiedener Branchen, darunter Luft- und Raumfahrt, Verteidigung und Halbleiterherstellung, ausgelegt.
Interne Testvorbereitung
Wir sind stolz darauf, dass wir alle Aspekte der Testvorbereitung im eigenen Haus durchführen können, einschließlich der Entwicklung maßgeschneiderter Testaufbauten, die auf die spezifischen Anforderungen jedes Testszenarios zugeschnitten sind. Unser erfahrenes Team arbeitet eng mit der Kundschaft zusammen, um sicherzustellen, dass die Testprotokolle in Bezug auf Genauigkeit und Zuverlässigkeit optimiert sind.
Nutzung von Partneranlagen
Für die eigentliche Testdurchführung nutzen wir unser Strahlzeitkontingent in Partnereinrichtungen, die mit geeigneten Schwerionenbestrahlungsanlagen ausgestattet sind. Diese strategischen Partnerschaften ermöglicht uns den Zugang zu modernster Infrastruktur und Ressourcen, die für die Durchführung qualitativer SEE-Tests mit Schwerionen verschiedener Energien bzw. LETs erforderlich sind.
Modernste Systeme zur Erkennung von Strahlungseffekte wie z.B. Transienten
Wir verwenden modernste SEE-Erkennungssysteme, die auf einer FPGA-Architektur basieren und Strahlungseffekte im Nanosekundenbereich in Echtzeit erkennen. Unser Erkennungssystem ist in hohem Maße anpassbar, da sowohl die Hardware- als auch die Softwarekonfigurationen auf die spezifischen Anforderungen jedes Kunden zugeschnitten werden können.
Einhaltung von Standards
Unsere SEE-Testverfahren entsprechen den branchenüblichen Richtlinien, um die Aussagekräftigkeit und Zuverlässigkeit unserer Ergebnisse zu gewährleisten. Wir halten uns an relevante Standards wie
- ESCC Basic Specification No. 25100 für Testmethoden und Richtlinien für Single Event Effects
- EIA/JEDEC-Standards EIA/JES57 und JEDEC-Standards JESD89 für die Messung und Berichterstattung von Single Event Effects in Halbleiterbauelementen
- MIL-STD-750 Verfahren 1080 für bestimmte Single Event Effekte.
Umfassende Testlösungen
Ob es um die Bewertung von SEE in Halbleitergeräten oder um die Beurteilung der Anfälligkeit komplexer Systeme geht – wir bieten umfassende Testlösungen, die auf die spezifischen Anforderungen unserer Kunden zugeschnitten sind. Unser Ziel ist es, genaue und verwertbare Daten bereitzustellen, um fundierte Entscheidungen zu unterstützen und die Zuverlässigkeit elektronischer Komponenten in strahlungsreichen Umgebungen zu verbessern.
Unsere SEE-Testdienstleistungen
Interne Testvorbereitung
- Individuelle Testaufbauten, die intern entwickelt werden, um spezifische Kundenanforderungen zu erfüllen
- Ein erfahrenes Team sorgt für eine gründliche Vorbereitung für effiziente Tests
Nutzung von Partneranlagen
- Zugang zu Partner-Einrichtungen mit Schwerionen- und Protonenbestrahlungsmöglichkeiten
- Strategische Partnerschaften gewährleisten den Zugang zu modernster Infrastruktur für verlässliche und hochqualitative Testergebnisse
SEE-Laser-Tests
- In-house-SEE-Tests mit einer gepulsten Laserquelle
- Präzise und kontrollierte Methode zur Bewertung der Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen bezüglich Single Event Effekten (SEE)
- SEE Laser Testing bietet eine hohe Verfügbarkeit und unmittelbare Ergebnisse
- Schnelle Ergebnisse und kürzere Entwicklungszyklen
Einhaltung von Standards
- Einhaltung von Industriestandards, einschließlich ESCC 25100 und EIA/JEDEC-Standard EIA/JES57 für Single-Event-Effekt-Tests
- Einhaltung relevanter Standards für Single-Event-Burnout- und Single-Event-Gate-Rupture-Tests, wie z. B. MIL STD 750, Verfahren 1080
Umfassende Testlösungen
- Bewertung der Auswirkungen von Strahlung auf einzelne Komponenten oder komplexe Systeme
- Maßgeschneiderte Testlösungen für spezifische Kundenanforderungen
- Bereitstellung präziser und verwertbarer Daten zur Unterstützung fundierter Entscheidungen
Bei den Seibersdorf Laboratories können Sie sich auf unsere Kompetenz und unser Engagement für hervorragende SEE-Prüfungen verlassen, um die Integrität und Leistung Ihrer elektronischen Komponenten vor den Herausforderungen von durch Strahlenbelastung verursachten Einzelereignissen zu schützen.